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AEC全稱：Automotive Electronics Council ，中文名：汽車電子協(xié)會。由克萊斯勒、福特、通用發(fā)起并于1994年創(chuàng)立。

AEC目的：針對車載應(yīng)用汽車零部件，汽車車載電子實施標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，建立車載電子部件的可靠性及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格化質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)，提高車載電子的穩(wěn)定性和標(biāo)準(zhǔn)化。AECQ即國際汽車電子協(xié)會車規(guī)驗證標(biāo)準(zhǔn)。

包括AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103(傳感器)、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動組件)。進(jìn)入汽車領(lǐng)域，則必須取得汽車電子協(xié)會的AECQ可靠度標(biāo)準(zhǔn)。

AEC-Q100

對汽車車載電子零部件測試標(biāo)準(zhǔn)以AEC-Q100-(001~012)，AEC-Q101，AEC-Q200為最常見。其中AEC-Q100是AEC的第一個標(biāo)準(zhǔn)，于1994年6月首次發(fā)表，現(xiàn)經(jīng)過了十多年的發(fā)展，AEC-Q100已經(jīng)成為汽車電子系統(tǒng)的通用標(biāo)準(zhǔn)。對于車用芯片來說AEC-Q100也是最常見的應(yīng)力測試(Stress Test)認(rèn)證規(guī)范。

AEC-Q認(rèn)證測試項目

AEC-Q100詳細(xì)規(guī)定了一系列的測試，同時定義了應(yīng)力測試驅(qū)動型認(rèn)證的最低要求以及IC認(rèn)證的參考測試條件。這些測試包括7個測試群組共41項：

測試群組A(環(huán)境壓力加速測試，Accelerated Environment Stress)

測試群組B(使用壽命模擬測試，Accelerated Lifetime Simulation)

測試群組C(封裝組裝整合測試，Package Assembly Integrity)

測試群組D(芯片晶圓可靠度測試，Die Fabrication Reliability)

測試群組E(電氣特性確認(rèn)測試，Electrical Verification)

測試群組F(瑕疵篩選監(jiān)控測試，Defect Screening)

測試群組G(封裝凹陷整合測試，Cavity Package Integrity)

此外，為了達(dá)到汽車電子產(chǎn)品對工作溫度、耐久性與可靠度的高標(biāo)準(zhǔn)要求，組件供貨商必須采用更先進(jìn)的技術(shù)和更苛刻的測試程序來達(dá)成最佳化的設(shè)計方法。因此，AEC-Q100又分為不同的產(chǎn)品等級，其中第一級標(biāo)準(zhǔn)的工作溫度范圍在-40℃至125℃之間;最嚴(yán)格的第0級標(biāo)準(zhǔn)工作溫度范圍可達(dá)到-40℃至150℃ 。一般AEC-Q100認(rèn)證周期在2個月左右，考慮到時間周期和成本因素，建議實施AEC-Q100認(rèn)證前可以做摸底，摸底正常后著手認(rèn)證。認(rèn)證機構(gòu)建議選擇通過CNAS17025認(rèn)證的實驗室即可，如有認(rèn)證品牌方要求，可以選擇國內(nèi)外一線品牌檢測機構(gòu)。

AEC在AEC-Q100之后又陸續(xù)制定了針對離散組件的AEC-Q101和針對被動組件的AEC-Q200等規(guī)范，以及AEC-Q001/Q002/Q003/Q004等指導(dǎo)性原則(Guideline)。

AEC-Q100作用

主要用于預(yù)防產(chǎn)品可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，引導(dǎo)零部件供貨商在開發(fā)的過程中就能采用符合該規(guī)范的芯片。AEC-Q100對每一個芯片個案進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，確認(rèn)制造商所提出的產(chǎn)品數(shù)據(jù)表、使用目的、功能說明等是否符合最初需求的功能，以及在連續(xù)使用后功能與性能是否能始終如一。

AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)的目標(biāo)是提高產(chǎn)品的良品率，這對芯片供貨商來說，不論是在產(chǎn)品的尺寸、合格率及成本控制上都面臨很大的挑戰(zhàn)。不管是投標(biāo)還是占領(lǐng)市場，要想盡早進(jìn)入汽車領(lǐng)域并且立足，AEC-Q系列認(rèn)證都將會是車規(guī)芯片認(rèn)證的首選。

以下供大家參考使用：

AEC - Q100 Rev - G base: 集成電路的應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)(不包含測試方法)

AEC-Q100-001 邦線切應(yīng)力測試

AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試

AEC-Q100-003 機械模式靜電放電測

AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應(yīng)測試

AEC-Q100-005 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試

AEC-Q100-006 熱電效應(yīng)引起的寄生閘極漏電流測試

AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級

AEC-Q100-008 早期壽命失效率(ELFR)

AEC-Q100-009 電分配的評估

AEC-Q100-010 錫球剪切測試

AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測試

AEC-Q100-012 12V 系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述AEC - Q101 Rev - C: 分立半導(dǎo)體元件的應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)(包含測試方法)

AEC - Q101-001 - Rev-A: 人體模式靜電放電測試

AEC - Q101-002 - Rev-A: 機械模式靜電放電測試

AEC - Q101-003 - Rev-A: 邦線切應(yīng)力測試

AEC - Q101-004 - Rev-: 同步性測試方法

AEC - Q101-005 - Rev-A: 帶電器件模式的靜電放電測試AEC - Q101-006 - Rev-: 12V 系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述

AEC - Q200 Rev - C: 半導(dǎo)體被動元件的應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)(包含測試方法)

AEC - Q200-001 - Rev-A: 阻燃性能測試

AEC - Q200-002 - Rev-A: 人體模式靜電放電測試

AEC - Q200-003 - Rev-A: 斷裂強度測試